證券日報網(wǎng)5月13日訊 ,勝科納米(688757)在接受調(diào)研者提問時表示,公司創(chuàng)造性提出“Labless”,即半導(dǎo)體(881121)企業(yè)將失效分析等檢測分析工作更多地交由專業(yè)第三方實驗室執(zhí)行。目前國內(nèi)芯片設(shè)計公司基本都是Labless模式;晶圓廠通常有廠內(nèi)自建實驗室,多采用Lab-lite(LITE)模式,即通過小規(guī)模自建實驗室滿足緊急和部分保密程度較高的檢測需求,將溢出檢測分析需求委托給第三方檢測機(jī)構(gòu)。目前Labless模式憑借經(jīng)濟(jì)性、專業(yè)性、時效性等已逐漸成為市場發(fā)展趨勢。
